性能特點
·沒有始波盲區的影響
·散射小，能提高在高衰減高散射材料檢測中的信噪比
·探頭底部可加工成不同形狀以保證與工件表面耦合良好：AID(工件內表面軸向檢測)、CID(工件內表面徑向檢測)、AOD(工件外表面軸向檢測)、COD(工件外表面徑向檢測)
應用
·核工業領域
·粗晶奧氏體不銹鋼材料
·近表面缺陷檢測
·不同板厚的焊縫檢測
·其他高衰減材料檢測
其他說明
·探頭默認“性能類型”為C系列
·探頭默認延時塊為內嵌（延時塊包裹在外殼內），可定制延時塊外露，高度為3~3.5mm
·探頭默認無進水管與導水槽，如有需要，可定制
·FS表示聚焦聲程，FD表示聚焦深度，FS、FD與 β 的換算關系： Cosβ=FD/（FS+0.5D），D表示孔直徑
·探頭接口默認為頂裝C5(Lemo-00)，可定制接口側裝
