雙晶直探頭具有獨立發射和接受的晶片，在工件中產生一定聚焦長度的雙晶片換能器。主要應用于腐蝕檢測、涂層測量、剩余壁厚測量、近表面缺陷檢測、高衰減材料檢測以及鑄鍛件中裂紋、氣孔、夾雜物、孔隙度的檢測。
1. 沒有始波盲區的影響；
2. 散射小，能提高在高衰減高散射材料檢測中的信噪比；
3. 在彎曲的曲面或粗糙面中耦合效果好；
4. 兩種類型性能的探頭可滿足絕大多數檢測要求。
? ?(1) "PL"通用型系列:?
? ? ? ? ? 用于需要高靈敏度與穿透力并對分辨率、帶寬要求不高的應用場合。
? ?(2) "C"壓電復合陶瓷系列:
? ? ? ? ?保證在高衰減材料的檢測中具有很高的信噪比，并將靈敏度、分辨率和穿透力完美結合。
中國規格
1. 探頭默認“性能類型”為PL系列
2. 探頭接口默認為:頂裝Microdot、Q6
歐洲規格
2.探頭接口默認為側裝C5(Lemo-00)
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北美規格
1.探頭具有低矮的高度，出線端配有可把持手柄，適用于難以進入的檢測空間
2.探頭默認側面出線，線長為1.8m，電纜線末端接口有C9(Lemo-1)，Q9(BNC)可選
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